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簡要描述：數(shù)據(jù)采集儀 是TR/INV306U家族中的高速系列高精度采集儀，適合較多通道數(shù)或者較高采樣速率的振動、噪聲、沖擊等信號采集，Z高采樣頻率1MHz，采用16 位高速AD 芯片、多通道并行、連續(xù)大容量設(shè)
產(chǎn)品型號：TRINV306U-7660廠商性質(zhì)：其他更新時間：2025-09-04訪 問 量：630產(chǎn)品分類
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| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
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數(shù)據(jù)采集儀
者較高采樣速率的振動、噪聲、沖擊等信號采集，Z高采樣頻率1MHz，采用16 位高速AD 芯片、多通道并行、連續(xù)大容量設(shè)計，性能穩(wěn)定可靠，可在具備USB2.0 高速接口的計算機(jī)上即插即用，具有精度高、失真小、噪聲低、通道*性好、匹配性能好的優(yōu)點，可與DASP 系列軟件相連，形成具有一百余項先進(jìn)技術(shù)的高性能數(shù)據(jù)采集和信號處理系統(tǒng)。
主要技術(shù)指標(biāo)
Z高采樣頻率：1.024MHz/實際采樣通道數(shù)
并行通道*性：幅值0.05dB，相位0.2度
數(shù)據(jù)采集儀
通道間串?dāng)_：-100dB
A/D分辨率：16位
輸入量程：±5V
輸入噪聲：<0.5mVrms @±5V量程
輸入阻抗：>1MΩ
輸入接頭：BNC
頻率誤差：<0.01%
幅值誤差：<1%
幅值線性度：<0.025%
總諧波失真：<0.01%
采集深度：連續(xù)，僅受硬盤和操作系統(tǒng)限制
外形*：302×235×82mm @ 32/64通道
302×235×57mm @ 16通道
接口：USB2.0，即插即用，支持熱插拔
操作系統(tǒng)：Windows 98/Me/2000/XP
應(yīng)用軟件：DASP系列全部軟件
質(zhì)量體系：ISO9001:2000質(zhì)量體系認(rèn)證,GB/T19001:2000國內(nèi)質(zhì)量體系認(rèn)證
許
 | 產(chǎn)品名稱：礦用粉塵采樣器 產(chǎn)品型號：CCZ20 |
礦用粉塵采樣器型號：CCZ20
產(chǎn)品簡介：
CCZ20型礦用粉塵采樣器時有高性能吸氣泵、自動時間控制電路、流量調(diào)節(jié)電路、自動反饋恒流電路、欠壓保護(hù)報警電路、安全電源等組成。具有無脈動氣流、負(fù)壓、負(fù)載能力大。自動定時采樣、安全可靠、堅固耐用、使用方便等特點。 可廣泛使用于工礦企業(yè)，勞動安全、衛(wèi)生及環(huán)境保護(hù)等部門，測定環(huán)境空氣中浮游粉塵的濃度。
產(chǎn)品特點及用途
CCZ20 型礦用粉塵采樣器（以下簡稱采樣器）為短時、可調(diào)流量式粉塵采樣器，是一種用于測定環(huán)境空氣中浮游粉塵濃度的常規(guī)儀器。該采樣器配合微量天平可測量計算出含塵空氣中呼吸性粉塵，非呼吸性粉塵及總粉塵的質(zhì)量。其分離效能符合“BMRC” 呼吸性粉塵分離效能標(biāo)準(zhǔn)曲線的要求，是一種較為可靠測塵裝置。采樣器具有自動定時采樣，無脈動氣流，負(fù)載能力大，安全可靠，堅固耐用，便于攜帶和現(xiàn)場使用等優(yōu)點。
該采樣器于工礦企業(yè)、勞動安全、勞動衛(wèi)生及環(huán)境保護(hù)等部門的粉塵監(jiān)測，特別于煤礦井下及其它含有爆炸危險性氣體的作業(yè)場所使用。
主要技術(shù)指標(biāo)：
項目技術(shù)指標(biāo)
采樣器流量20L/min
采樣器流量誤差≤5.0%FS
采樣器流量穩(wěn)定性≤3.0﹪FS(30min內(nèi))
負(fù)載能力≥200Pa
連續(xù)工作時間≥100min
流量計準(zhǔn)確度2.5級
防爆等級Exibd I
外形尺寸200x140x80mm
重量1.8kg
 | 產(chǎn)品名稱：非接觸厚度電阻率測試儀 產(chǎn)品型號：JXNRT1 |
非接觸厚度電阻率測試儀型號：JXNRT1
一、測試原理
1、電阻率測試探頭原理
電阻率測試模塊是由一對共軸渦流傳感器，以及后續(xù)的處理電路組成。將半導(dǎo)體硅片置于兩個探頭的間隙中時，在電磁場的作用下，半導(dǎo)體硅片中會產(chǎn)生渦流效應(yīng)，通過檢測渦流效應(yīng)的大小，可以換算出該硅片的電阻率和方塊電阻。本方法是一種非接觸無損測量的方法，不損傷材料表面，可以在大多數(shù)場合有效替代四探針法測試電阻率以及方塊電阻。
2、厚度測試探頭原理
厚度探頭采用的是一對共軸電容位移傳感器。電容傳感器具有重復(fù)性好，測試數(shù)值穩(wěn)定，技術(shù)成熟等優(yōu)點，廣泛用于各種材料厚度的測試。
二、范圍
本設(shè)備為非接觸無損測量設(shè)備，測試過程中對硅片表面以及內(nèi)部不會造成損傷。特別于代替四探針法用于半導(dǎo)體硅片成品分選檢驗。一臺儀器可以同時對厚度和電阻率兩個指標(biāo)進(jìn)行測試分選，減少了測試工序和測試時間，提高了測試效率。
典型的客戶：科研單位、硅片生產(chǎn)廠商、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、光伏企業(yè)、導(dǎo)電薄膜生產(chǎn)企業(yè)。
三、儀器構(gòu)成
1、測試主機(jī)：1 臺
2、電源線：1 根
3、串口數(shù)據(jù)線：1 根
4、電腦端軟件：1 套
5、塑料定位柱：2 個
四、儀器外觀尺寸結(jié)構(gòu)及圖片
1、整機(jī)尺寸：340*260*180mm
2、機(jī)箱顏色：電腦白
3、儀器結(jié)構(gòu)：本儀器采用厚度探頭和電阻率探頭前后并列安裝的方式。
五、儀器主要指標(biāo)
1、電氣規(guī)格
a. 使用標(biāo)準(zhǔn)三插頭，由 220V 交流電供電，整機(jī)功耗小于 15 瓦。
b. 本儀器測試平臺和外殼均為金屬材料，按照安全規(guī)范，請確保電源地線正確連接。
2、測試范圍
測試樣品要求：厚度小于 600um 的半導(dǎo)體硅片以及其他類似材料。(為客戶提供特殊定制，厚度大的測試范圍可以擴(kuò)展到 800um)
電阻率范圍： L 檔： 0.2-5 Ω·cm
H 檔： 5-50 Ω·cm
注： 電阻率不在上述量程范圍內(nèi)的可以按要求調(diào)整， 調(diào)整的范圍可以在0.001-100Ω*cm。
厚度范圍： 100-600 um （定制版可以做到 300-800um） 注：普通版本厚度大于 700um 的硅片無法放入測試區(qū)域。
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