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| 產地 | 國產 | 加工定制 | 否 |
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雙電測四探針測試儀 四探針測試儀型號：TC-RTS-5
TC-RT 用了四探針雙電測組合（亦稱雙位組合）測量新技術,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響進行動態的自動修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提高了測量結果的準確度。所有這些，用目前大量使用的常規四探針測量方法所的儀器是無法實現的。
系統是一個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序，通過此測試程序輔助使用戶簡便地進行各項測試及獲得測試數據并對測試數據進行統計分析。
測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數據，把采集到的數據在計算機中加以分析，然后把測試數據以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數據在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數據輸出到Excel中，讓用戶對數據進行各種數據分析
技術參數：
測量范圍 電阻率：0.001～200Ω.cm（可擴展）；
方塊電阻：0.01～2000Ω/□（可擴展）；
電導率：0.005～1000 s/cm；
電阻：0.001～200Ω.cm；
可測晶片厚度 ≤3mm
雙電測四探針測試儀 四探針測試儀
可測晶片直徑 140mmX150mm（配S-2A型測試臺）；
200mmX200mm（配S-2B型測試臺）；
400mmX500mm（配S-2C型測試臺）；
恒流源 電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔，各檔電流連續可調
數字電壓表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；
分辨力：10μV；
輸入阻抗：>1000MΩ；
精度：±0.1% ；
顯示：四位半紅色發光管數字顯示；性、量程自動顯示；
四探針探頭基本指標 間距：1±0.01mm；
針間緣電阻：≥1000MΩ；
機械游移率：≤0.3%；
探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
探針壓力：5～16 牛頓（總力）；
四探針探頭應用參數 （見探頭附帶的合格證）
模擬電阻測量相對誤差
（ 按JJG508-87進行） 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機測量Z大相對誤差（用硅標樣片：0.01-180Ω.cm測試）≤±4%
整機測量標準不確定度 ≤4%
計算機通訊接口 并口
標準使用環境 溫度：23±2℃；
相對濕度：≤65%；
無高頻干擾；
無強光直射
 | 產品名稱：數字式四探針測試儀 產品型號： SZT-I 停產 |
數字式四探針測試儀型號：SZT-I
SZT-I型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理 的多用途綜合測量裝置。它可以測量片狀、快狀半導體材料徑向和軸向電阻率，測量片狀半導體材料的電阻率和擴散層的薄層電阻（方塊電阻），換上特制的四探針測試夾，還可以對金屬導體的低中值電阻進行測量。此外，探針經過特殊加工后，還可以測量薄膜材料電阻率。廣泛于半導體材料、器件廠、高等院?；瘜W物理系、科研單位，對半導體材料的電阻性能測試。
本儀器測試探頭采用寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針，定位準確，游移率小，使用壽命長。
技術參數：
1． 測量范圍：
電阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
方塊電阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
電阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω
導電類型鑒別：電阻率范圍 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2． 可測半導體材料尺寸
直徑：φ15~100 mm
長度：≤400mm
3． 測量方法：
軸向、斷面均可
4． 顯示方式：31/2,數顯,性、過載自動顯示，小數點、單位自動顯示。
5． 恒流源：
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA連續可調。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 誤差：±0.5%讀數±2個字
6.四探針測試探頭
(1) 探針間距:1mm
(2) 材料:碳化鎢.探針機械游移率:±1.0%
7.電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W
 | 產品名稱：橡膠硬度計 產品型號：XHS-A |
橡膠硬度計 型號：XHS-A
測量橡膠、塑膠材料硬度的試驗儀器。
執行標準：GB/T531、JJG304、適合GB/T6031試驗方法的有關規定。
硬度計表頭可安裝在定負荷測定架上，在實驗室內對橡膠、塑料材料標準試片測定其標準硬度，也可手持硬度計表頭在生產車間及承裝在設備上的橡塑材料進行測定其表面硬度。
主要技術參數:
壓針行程：0-2.5mm
硬度顯示范圍：0-100度
試樣厚度：≥4mm（可兩層疊加）
三種硬度計的適應范圍：
1、XHS-A：常規硬度計，試驗準確區域值為20-85度
2、XHS-D：高值硬度計，試驗準確區域值為20-80度（當A型硬度在85度以上,應采用D型測量）
3、XHS-W：低值硬度計，試驗準確區域值為20-85度（當A型硬度在35度以下,應采用W型測量）
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