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簡(jiǎn)要描述：雙電測(cè)四探針測(cè)試儀 四探針測(cè)試儀 型號(hào)：TC-RTS-5 采用了四探針雙電測(cè)組合（亦稱(chēng)雙位組合）測(cè)量新技術(shù),將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
產(chǎn)品型號(hào)：TC-RTS-5廠商性質(zhì)：其他更新時(shí)間：2025-08-31訪 問(wèn) 量：624產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
| 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
|---|
雙電測(cè)四探針測(cè)試儀 四探針測(cè)試儀型號(hào)：TC-RTS-5
TC-RT 用了四探針雙電測(cè)組合（亦稱(chēng)雙位組合）測(cè)量新技術(shù),將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次測(cè)量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測(cè)量都是對(duì)幾何因素的影響進(jìn)行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提高了測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。所有這些，用目前大量使用的常規(guī)四探針測(cè)量方法所的儀器是無(wú)法實(shí)現(xiàn)的。
系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序，通過(guò)此測(cè)試程序輔助使用戶簡(jiǎn)便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來(lái)。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍 電阻率：0.001～200Ω.cm（可擴(kuò)展）；
方塊電阻：0.01～2000Ω/□（可擴(kuò)展）；
電導(dǎo)率：0.005～1000 s/cm；
電阻：0.001～200Ω.cm；
可測(cè)晶片厚度 ≤3mm
雙電測(cè)四探針測(cè)試儀 四探針測(cè)試儀
可測(cè)晶片直徑 140mmX150mm（配S-2A型測(cè)試臺(tái)）；
200mmX200mm（配S-2B型測(cè)試臺(tái)）；
400mmX500mm（配S-2C型測(cè)試臺(tái)）；
恒流源 電流量程分為0.1mA、1mA、10mA、100mA四檔，各檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；
分辨力：10μV；
輸入阻抗：>1000MΩ；
精度：±0.1% ；
顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；性、量程自動(dòng)顯示；
四探針探頭基本指標(biāo) 間距：1±0.01mm；
針間緣電阻：≥1000MΩ；
機(jī)械游移率：≤0.3%；
探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
探針壓力：5～16 牛頓（總力）；
四探針探頭應(yīng)用參數(shù) （見(jiàn)探頭附帶的合格證）
模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差
（ 按JJG508-87進(jìn)行） 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字
整機(jī)測(cè)量Z大相對(duì)誤差（用硅標(biāo)樣片：0.01-180Ω.cm測(cè)試）≤±4%
整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度 ≤4%
計(jì)算機(jī)通訊接口 并口
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 溫度：23±2℃；
相對(duì)濕度：≤65%；
無(wú)高頻干擾；
無(wú)強(qiáng)光直射
 | 產(chǎn)品名稱(chēng)：數(shù)字式四探針測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)： SZT-I 停產(chǎn) |
數(shù)字式四探針測(cè)試儀型號(hào)：SZT-I
SZT-I型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理 的多用途綜合測(cè)量裝置。它可以測(cè)量片狀、快狀半導(dǎo)體材料徑向和軸向電阻率，測(cè)量片狀半導(dǎo)體材料的電阻率和擴(kuò)散層的薄層電阻（方塊電阻），換上特制的四探針測(cè)試夾，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低中值電阻進(jìn)行測(cè)量。此外，探針經(jīng)過(guò)特殊加工后，還可以測(cè)量薄膜材料電阻率。廣泛于半導(dǎo)體材料、器件廠、高等院校化學(xué)物理系、科研單位，對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。
本儀器測(cè)試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針，定位準(zhǔn)確，游移率小，使用壽命長(zhǎng)。
技術(shù)參數(shù)：
1． 測(cè)量范圍：
電阻率：10的-4次方~10的3 次方Ω-cm
方塊電阻：10的-3次方 ~10的4 次方Ω/□
電阻：10的-6次方 ~10的5 次方Ω
導(dǎo)電類(lèi)型鑒別：電阻率范圍 10的-4 次方~10 的3次方Ω—cm
2． 可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸
直徑：φ15~100 mm
長(zhǎng)度：≤400mm
3． 測(cè)量方法：
軸向、斷面均可
4． 顯示方式：31/2,數(shù)顯,性、過(guò)載自動(dòng)顯示，小數(shù)點(diǎn)、單位自動(dòng)顯示。
5． 恒流源：
（1） 電流輸出：直流電流0~100 mA連續(xù)可調(diào)。
（2） 量程：10、100μA、1、10、100mA
（3） 誤差：±0.5%讀數(shù)±2個(gè)字
6.四探針測(cè)試探頭
(1) 探針間距:1mm
(2) 材料:碳化鎢.探針機(jī)械游移率:±1.0%
7.電源:220±10% 50Hz或60Hz 功耗:＜35W
 | 產(chǎn)品名稱(chēng)：橡膠硬度計(jì) 產(chǎn)品型號(hào)：XHS-A |
橡膠硬度計(jì) 型號(hào)：XHS-A
測(cè)量橡膠、塑膠材料硬度的試驗(yàn)儀器。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T531、JJG304、適合GB/T6031試驗(yàn)方法的有關(guān)規(guī)定。
硬度計(jì)表頭可安裝在定負(fù)荷測(cè)定架上，在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)對(duì)橡膠、塑料材料標(biāo)準(zhǔn)試片測(cè)定其標(biāo)準(zhǔn)硬度，也可手持硬度計(jì)表頭在生產(chǎn)車(chē)間及承裝在設(shè)備上的橡塑材料進(jìn)行測(cè)定其表面硬度。
主要技術(shù)參數(shù):
壓針行程：0-2.5mm
硬度顯示范圍：0-100度
試樣厚度：≥4mm（可兩層疊加）
三種硬度計(jì)的適應(yīng)范圍：
1、XHS-A：常規(guī)硬度計(jì)，試驗(yàn)準(zhǔn)確區(qū)域值為20-85度
2、XHS-D：高值硬度計(jì)，試驗(yàn)準(zhǔn)確區(qū)域值為20-80度（當(dāng)A型硬度在85度以上,應(yīng)采用D型測(cè)量）
3、XHS-W：低值硬度計(jì)，試驗(yàn)準(zhǔn)確區(qū)域值為20-85度（當(dāng)A型硬度在35度以下,應(yīng)采用W型測(cè)量）
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