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記憶式照度計TD-2005LX

簡要描述：記憶式照度計TD-2005LX

自動記錄16000筆數據，含時間紀錄（年月日時分秒）
手動記錄數據，Z多250筆
0.1~100000LUX/0.1~10000FC
LUX（照度）/Ft-cd（呎/燭光）單位選擇切換
精確度: ±4%

產品型號：TD-2005LX
廠商性質：其他
更新時間：2025-02-24
訪問量：565

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專用設備儀器

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詳細介紹

產地	國產	加工定制	否

記憶式照度計TD-2005LX

自動記錄16000筆數據，含時間紀錄（年月日時分秒）
手動記錄數據，Z多250筆
0.1~100000LUX/0.1~10000FC
LUX（照度）/Ft-cd（呎/燭光）單位選擇切換
精確度: ±4%
感光器光譜反應符合C.I.E.規范
內建四種受光源系數補償
記憶式照度計TD-2005LX 值
可外接電源或使用電池

自動記錄16000筆數據，含時間紀錄（年月日時分秒）
手動記錄數據，Z多250筆
0.1~100000LUX/0.1~10000FC
LUX（照度）/Ft-cd（呎/燭光）單位選擇切換
精確度: ±4%
感光器光譜反應符合C.I.E.規范
內建四種受光源系數補償
一般照度、鈉燈（sodium）、日光燈（ fluorescent light）及太陽燈（sunlamp）
讀值鎖定及記錄測量中之Z大/Z小值
可外接電源或使用電池

產品名稱：手持式四探針測試儀
產品型號：M-3

手持式四探針測試儀型號：M-3

M-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成：由M-3主機、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測試臺。
儀器所有參數設定、功能轉換全部采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校功能；手動/自動轉換量程可選；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭特點與選型參考》點擊進入
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡便等特點。
儀器于半導體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的手持式導電性能的測試。

4) 適配器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈重：≤0.3kg

三、基本技術參數
1. 測量范圍、分辨率

量程（Ω-cm/□）	2.000	20.00	200.0	2.000k	20.00k
電阻測試范圍	0.010～2.200	2.000～22.00	20.00～220.0	0.200～2.200k	2.000～50.00k
電阻率/方阻	0.010/0.050～2.200	2.000～22.00	20.00～220.0	0.200～2.200k	2.000～20.00k/100.0k
基本誤差	±1%FSB±2LSB			±2%FSB±2LSB

電    阻：     0.010Ω ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001Ω ～ 10 Ω
電阻率：     0.010Ω-cm～ 20.00kΩ-cm，分辨率0.001Ω ～ 10 Ω-cm
方塊電阻：     0.050Ω/□ ～ 100.00kΩ/□   分辨率0.001Ω ～ 10 Ω/□
2. 可測材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺決定如下：
直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm。停產
SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。
長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm。.
測量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等級

產品名稱：缺口制樣機
產品型號： QK20

缺口制樣機型號： QK20

QK20缺口制樣機,是用機械加工方法制備加工塑料、有機玻璃等非金屬材料的簡支梁、懸臂梁沖擊試驗用標準缺口樣條的設備，該機符合ISO179、ISO180、GB/T1043、GB/T1843、GB/T8814D的要求

主要技術參數及規格：
銑缺口刀具長度:50 mm
大銑切厚度:20mm

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