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      微機塞曼效應實驗儀

      更新時間:2017-11-15      點擊次數:420

      微機塞曼效應實驗儀 型號: SM-Ⅲ 
      用途和目的 
      SM-Ⅲ微機塞曼效應實驗儀為塞曼效應實驗儀的更新換代產品,它利用光電機的一體化與計算機技術,提高塞曼實驗儀的現代化程度。采用的高靈敏度及高分辨率的CCD圖像傳感器,既可把塞曼效應的干涉圖像在監視器屏幕上顯示,又可通過圖像采集箱數字化由USB接口輸入微機,在微機顯示器上顯示圖像,通過精心編制的塞曼效應分析軟件可從屏幕上測量干涉條紋直徑,進而求出電子荷質比和實驗誤差,并可將結果及圖像輸出打印。 

      SM-Ⅲ微機塞曼效應實驗儀技術參數及特點 
      * 光源采用GGQ-20WHg筆形汞燈,譜線范圍400.0nm~577.0nm; 
      * 濾色片中心波長:365.0nm; 
      * 實驗誤差:≤5%; 
      * 與微機連接方式:USB2.0; 
      * 可實現塞曼效應的干涉圖樣的快速采集與分析,節約實驗時間; 
      * 直觀性好,可靠性好,圖像明亮清晰反差大,不用在暗室內工作; 
      * 儀器調節方便、簡捷、工作量小,減少了該實驗的難度; 
      * 易于控制,便于自動化處理; 
      * 可做縱向塞曼效應的觀察; 
      * 磁場裝置為*磁鐵,磁場強度高、體積小、重量輕,便于工作攜帶。
      SM-Ⅲ微機塞曼效應實驗儀

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       型號: SM-Ⅲ 
      用途和目的 
      SM-Ⅲ微機塞曼效應實驗儀為塞曼效應實驗儀的更新換代產品,它利用光電機的一體化與計算機技術,提高塞曼實驗儀的現代化程度。采用的高靈敏度及高分辨率的CCD圖像傳感器,既可把塞曼效應的干涉圖像在監視器屏幕上顯示,又可通過圖像采集箱數字化由USB接口輸入微機,在微機顯示器上顯示圖像,通過精心編制的塞曼效應分析軟件可從屏幕上測量干涉條紋直徑,進而求出電子荷質比和實驗誤差,并可將結果及圖像輸出打印。 

      SM-Ⅲ微機塞曼效應實驗儀技術參數及特點 
      * 光源采用GGQ-20WHg筆形汞燈,譜線范圍400.0nm~577.0nm; 
      * 濾色片中心波長:365.0nm; 
      * 實驗誤差:≤5%; 
      * 與微機連接方式:USB2.0; 
      * 可實現塞曼效應的干涉圖樣的快速采集與分析,節約實驗時間; 
      * 直觀性好,可靠性好,圖像明亮清晰反差大,不用在暗室內工作; 
      * 儀器調節方便、簡捷、工作量小,減少了該實驗的難度; 
      * 易于控制,便于自動化處理; 
      * 可做縱向塞曼效應的觀察; 
      * 磁場裝置為*磁鐵,磁場強度高、體積小、重量輕,便于工作攜帶。
      SM-Ⅲ微機塞曼效應實驗儀

       

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